膜厚仪的使用方法如下:
1、测定准备:确保电池正负极方向正确无误后设定。探头的选择和设定:在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象,在本体上进行设定。
2、探头的选择和安装方法:确认电源处于OFF状态,与测定对象的质地材质接触,安装LEP-J或LHP-J。
3、调整:确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。
4、测定:在探头的末端加一定的负荷,即使用【一点接触定压式】。抓住与测定部接近的部分,迅速在与测定面成垂直的角度按下。每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时,如果采用探头适配器,可以更加稳定地进行测定。
膜厚仪又名膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。台式的荧光X射线膜厚仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时・产生低能量的光子,俗称为二次荧光,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
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